index - Equipe NIMPH du CIMAP - Nanomatériaux, Ions et Métamatériaux pour la PHotonique

Bienvenue sur la collection de l'équipe Nanomatériaux, Ions et Métamatériaux pour la PHotonique (NIMPH) du laboratoire CIMAP

L'équipe NIMPH est impliquée dans l’étude des nanomatériaux, des ions et des métamatériaux avec pour objectif le développement de structures en couches minces présentant des caractéristiques innovantes dans les domaines de la microélectronique, de la photonique et de l'énergie.

Fichiers

202

 

 

Notices

236

 

 

Nous contacter

Référent HAL de l'équipe :
M. Julien Cardin
Tél. 02 31 45 26 64
julien.cardin@ensicaen.fr

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Mots clés

Microstructure physics Microstructure Neodymium Grazing incidence X-ray diffraction MoS2 Pulsed laser deposition Hillocks Liposomes Hafnium silicate Nanoparticules Pulvérisation cathodique Si nanocluster Cathodoluminescence Doping Oxides RF magnetron sputtering IR spectroscopy Friction Rare-earth ions CO adsorption Raman scattering Al2O3 Lifetime Citric acid HR STEM-HAADF Hybrid materials Optical amplifiers XRD Energy transfer Terres rares Magnetron sputtering Semiconductors Irradiation Oxide materials Electron paramagnetic resonance Films Couches minces semi-conductrices Thin films CoMoS Multilayers Silicon Hafnium silicates Structural properties Matériaux hybrides Epitaxy Photovoltaic Optical properties Crystal structure Electroluminescence Sputtering Down-conversion Refractive index Terbium Erbium High-k dielectrics Fluorescence Couches minces SiC Waveguides Feature erasure Silicon nanoclusters Luminescence Laser pyrolysis Radiofrequency magnetron sputtering Quantum-well Si-rich silicon oxide Phase transition Rare earth Silicium Rare earths Photoluminescence Oxygen vacancies Infrared absorption AFM GENOMIQUE Nanostructured materials Pulvérisation magnétron radiofréquence Silicon nanocrystals Nanostructures Raman Nanostructuring Waveguide Cerium Silicon nitride M-lines Microstructure physique Guide d'onde Copper Nanostructure Oxide interface Silicon photonics Computational electromagnetic methods PZT Nanoparticles ADE-FDTD Reactive magnetron sputtering Thin film FTIR Conductivity Atom probe tomography