Multi-Lateral Shearing Interferometry: Principle and Application to X-Ray Phase Imaging
J. Primot
(1)
,
J. Rizzi
(1)
,
P. Mercère
(2)
,
M. Idir
,
P. Bon
(3)
,
B. Wattellier
(4)
,
G. Druart
(1)
,
G. Vincent
(1)
,
R. Haidar
,
T. Weitkamp
(2)
,
N. Guérineau
(1)
,
S. Monneret
(3)