Application of laser testing in study of SEE mechanisms in 16-Mbit DRAMs - ONERA - Office national d'études et de recherches aérospatiales Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Nuclear Science Année : 2000
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01887628 , version 1 (04-10-2018)

Identifiants

Citer

S. Duzellier, D. Falguere, L. Guibert, V. Pouget, P. Fouillat, et al.. Application of laser testing in study of SEE mechanisms in 16-Mbit DRAMs. IEEE Transactions on Nuclear Science, 2000, 47 (6), pp.2392 - 2399. ⟨10.1109/23.903782⟩. ⟨hal-01887628⟩
73 Consultations
0 Téléchargements

Altmetric

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More